厚積薄發 創新引領·置富閃存芯片智能測試系統已覆蓋超過40種芯片類型

2018年，置富科技第一代閃存芯片智能測試系統樣機問世，自此，公司邁出了高端半導體測試設備國產化替代的步伐。這幾年，置富科技一直保持與行業翹楚以及客戶的緊密聯系，挖掘市場需求，不斷完善迭代閃存芯片智能測試系統功能，以適應日益復雜的芯片設計和制造需求和用戶體驗。

置富閃存芯片智能測試系統通過龐大的數據采集和數學模型搭建，現階段支持芯片測試類型已突破40種，覆蓋市場上主流芯片規格 ，可進一步為各存儲廠商和行業客戶提供全面專業的芯片測試服務。

置富閃存芯片智能測試系統是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，實驗版、科研版、寬溫版以及卓越版測試系統可提供寬溫測試環境，并行測試閃存顆粒種類多達64種，并行測試閃存顆粒數量多達512顆，同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態。完成測試后，用戶可方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供直觀的圖形化測試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供可靠的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現智能分級，是國內唯一自主研發的閃存芯片智能測試系統，該系統的研發和面世，可以極大地提高測試效率和精準度，降低企業生產成本。

目前置富科技推出的閃存芯片智能測試系統主要有：便攜式-專業版、生產版、科研版、寬溫版、卓越版、芯片測試自動分選機、芯片高溫篩選機和針對汽車、手機芯片測試的eMMC芯片智能測試系統，針對不同的應用場景，可提供不同的產品解決方案，也可以根據客戶需求，提供定制化服務。

置富閃存芯片智能測試系統支持超過40種不同類型的芯片，不僅僅是提高生產效率的有效工具，也是保障芯片質量的堅實防線。

未來置富科技將繼續不斷探索和創新，持續優化設備功能，不斷提高閃存測試效率和準確性，為芯片質量保駕護航，為高端國產化半導體測試設備提供更多選擇，促進半導體測試產業健康有序發展。